本產品可用于進行高值電阻與微電流測量。如高阻元器件的電阻值測量， 絕緣材料與半導體材料的體電阻與表面電阻值測量， 并可進行泄露電流與光電器件的暗電流測量。本產品適用于軍工、 科研等領域對絕緣材料、 電工產品與電子設備的測量， 可廣泛應用于裝備計量、 測試等領域。
高阻測量指標
量程 | 允許誤差±（%+偏置量） | 分辨力 | 測量范圍 |
20MΩ | 0.125+100Ω | 100Ω | 2MΩ~20MΩ |
200MΩ | 0.15+1KΩ | 1KΩ | 20MΩ~200MΩ |
2GΩ | 0.225+10KΩ | 10KΩ | 200MΩ~2GΩ |
20MΩ | 0.125+10Ω | 10Ω | 100kΩ~20MΩ |
20GΩ | 0.225+100KΩ | 100KΩ | 2GΩ~20GΩ |
200GΩ | 0.35+1MΩ | 1MΩ | 20GΩ~200GΩ |
2TΩ | 0.35+10MΩ | 10MΩ | 200GΩ~2TΩ |
20TΩ | 1.025+100MΩ | 100MΩ | 2TΩ~20TΩ |
200TΩ | 1.15+1GΩ | 1GΩ | 20TΩ~200TΩ |
1PΩ | 1.25+10GΩ | 10GΩ | 200TΩ~1PΩ |
